儀器型号：JEM-2100F

生産廠家：日本電子JEOL

主要技術指标：

加速電壓：200 KV

分辨率：線分辨率0.10 nm,點分辨率0.19 nm

放大倍數：400 ~1.5M

樣品最大傾角：±25

主要功能及應用領域

高分辨透射電鏡（HRTEM）廣泛應用于納米材料、催化劑、高分子材料、金屬材料、半導體材料、地質礦物、生物醫藥等方面，可進行低倍形貌觀察、高分辨成像。材料晶體結構類型（選區電子衍射），配合能譜儀（EDS）可實現成份含量測定。

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